Bruker INVENIO series
INVENIO je napredna i fleksibilna FT-IR spektrometarska platforma namenjena širokom spektru primena, od rutinske kontrole kvaliteta i identifikacije materijala do zahtevnih istraživačkih i razvojnih analiza. Zahvaljujući modularnom konceptu, sistem se može prilagoditi specifičnim potrebama korisnika izborom odgovarajućih detektora, izvora, dodatne opreme i naprednih mernih tehnika.
Platforma kombinuje visoke performanse, pouzdanost i jednostavnu nadogradnju, omogućavajući preciznu analizu različitih vrsta uzoraka i primenu u različitim oblastima istraživanja, industrije i kontrole kvaliteta.
INVENIO-S
INVENIO-R
INVENIO-X
TEHNIČKE SPECIFIKACIJE
INVENIO-S
INVENIO-S je FT-IR spektrometar namenjen naprednoj rutinskoj analizi i istraživanju. Kombinuje jednostavno korišćenje sa fleksibilnom konfiguracijom i mogućnošću proširenja sistema prema potrebama laboratorije.
Prednosti
- RockSolid™ interferometar za visoku stabilnost
- DigiTect™ detektori visoke osetljivosti
- Modularna konfiguracija
- Transit™ kanal za fleksibilniji rad sa uzorcima
- Širok izbor dodatne opreme
- Mogućnost proširenja sistema
- Podrška za napredne FT-IR tehnike
Primene
- Kontrola kvaliteta
- Identifikacija i karakterizacija materijala
- Farmaceutska i hemijska industrija
- Polimeri i materijali
- Istraživanje i razvoj
INVENIO-R
INVENIO-R je istraživački FT-IR spektrometar namenjen laboratorijama koje zahtevaju visoke performanse, fleksibilnost i napredne mogućnosti analize. Omogućava prilagođavanje instrumenta različitim istraživačkim aplikacijama i vrstama uzoraka.
Prednosti
- Visoka spektralna rezolucija
- Modularna optička konfiguracija
- Širok izbor detektora i izvora
- Mogućnost proširenja spektralnog opsega
- Podrška za napredne spektroskopske tehnike
- Mogućnost povezivanja sa dodatnim analitičkim sistemima
- OPUS softver za naprednu obradu podataka
Primene
- Istraživanje i razvoj
- Analiza materijala
- Hemijska i farmaceutska istraživanja
- Polimeri i kompozitni materijali
- Analiza reakcija i kinetike
- Napredna karakterizacija uzoraka
INVENIO-X
INVENIO-X je najfleksibilnija konfiguracija INVENIO platforme, namenjena zahtevnim istraživačkim i razvojnim primenama. Omogućava naprednu FT-IR analizu uz veliki izbor detektora, izvora i dodatne opreme.
Prednosti
- Maksimalna fleksibilnost konfiguracije
- Podrška za više detektora
- Širok spektralni opseg
- Automatizovana promena optičkih komponenti
- Visoka rezolucija i osetljivost
- Podrška za napredne FT-IR tehnike
- Mogućnost FT-IR mikroskopije
- Integracija sa TGA, GC i drugim tehnikama
- OPUS softver za naprednu analizu
Primene
- Napredna istraživanja i razvoj
- Materijalne nauke
- Farmaceutska istraživanja
- Hemija i kataliza
- Polimeri i nanomaterijali
- Analiza kompleksnih i višekomponentnih uzoraka
- Napredna spektroskopska istraživanja
Tehničke Specifikacije
- Tehnologija: FT-IR spektroskopija
- Interferometar: RockSolid™
- Softver: OPUS / OPUS TOUCH, u zavisnosti od konfiguracije
- Detektori: različite konfiguracije prema modelu i primeni
- Spektralni opseg: od FIR do UV/VIS, u zavisnosti od konfiguracije
- Dodatne tehnike: FT-IR mikroskopija, TGA-FT-IR, GC-FT-IR i druge
- Konfiguracija: modularna i nadogradiva


