SRB

    Bruker Nanophoton Series Mikroskopi

    Nanophoton Raman mikroskopi

    Nanophoton Raman mikroskopi kombinuju Raman spektroskopiju visoke rezolucije sa naprednom tehnologijom galvo skeniranja, omogućavajući brzo i precizno hemijsko snimanje. Namenjeni su istraživačkim i industrijskim primenama i omogućavaju detaljnu analizu materijala na mikroskopskom nivou, uz visoku brzinu, osetljivost i prostornu rezoluciju.

    Nanophoton RAMANfamily obuhvata različita rešenja za tačkastu analizu, Raman snimanje velikom brzinom, kao i analizu velikih površina i wafer-a. Sistemi su pogodni za širok spektar primena u oblastima nauke o materijalima, farmacije, elektronike, baterija, polimera i prirodnih nauka.

    Kategorija:

    RAMANtouch

    RAMANwalk

    RAMANdrive

    VIDEO

    RAMANtouch konfokalni Raman mikroskop

    RAMANtouch je napredni konfokalni Raman mikroskop dizajniran za brzo i precizno hemijsko snimanje. Kombinuje naprednu tehnologiju laserskog skeniranja sa visokom spektralnom i prostornom rezolucijom, omogućavajući detaljnu analizu materijala i uzoraka u 2D i 3D.

    Ključne prednosti:

    • Raman snimanje velike brzine za brzu analizu uzoraka
    • Visoka spektralna i prostorna rezolucija
    • Mogućnost 2D i 3D Raman snimanja
    • Konfokalni optički sistem za preciznu analizu po dubini
    • Automatska kalibracija i optičko poravnanje
    • Lasersko skeniranje bez pomeranja nosača uzorka
    • Nedestruktivna analiza materijala i struktura

     

    RAMANtouch je pogodan za širok spektar istraživačkih i industrijskih primena, uključujući nauku o materijalima, poluprovodnike, baterije, farmaceutsku industriju, polimere, minerale i prirodne nauke. Kombinacija brzine, preciznosti i automatizacije čini ga efikasnim rešenjem kako za rutinske analize, tako i za napredno Raman snimanje.

     

    Za više informacija molimo posetite sajt proizvođača

     

    RAMANwalk konfokalni Raman mikroskop

    RAMANwalk je napredni konfokalni Raman mikroskop dizajniran za brzo i efikasno Raman snimanje. Njegova inovativna tehnologija random-walk skeniranja inteligentno pronalazi Raman signale, omogućavajući brzo dobijanje pregleda slike i značajno smanjujući vreme merenja u poređenju sa konvencionalnim metodama skeniranja.

    Ključne prednosti:

    • Inovativna random-walk tehnologija za brže Raman snimanje
    • Brz pregled Raman slike za efikasnu procenu uzorka
    • Visoka spektralna i prostorna rezolucija
    • Galvo ogledala za brzo i precizno usmeravanje laserskog snopa
    • Automatsko upravljanje, kalibracija i optičko poravnanje
    • Napredne mogućnosti 2D i 3D Raman snimanja
    • Efikasna identifikacija specifičnih hemijskih komponenti i oblasti od interesa

     

    RAMANwalk je posebno pogodan za rutinske Raman analize i primene kod kojih su potrebni brza identifikacija ili skrining komponenti uzorka. Može se koristiti u istraživanju baterija, poluprovodnika, farmaceutskih proizvoda, prirodnih nauka, polimera, minerala, hrane i drugih materijala.

     

    Za više informacija molimo posetite sajt proizvođača

     

    RAMANdrive sistem za analizu wafer-a

    RAMANdrive je specijalizovani Raman mikroskop dizajniran za ultra-brzu analizu wafer-a visoke rezolucije, posebno za istraživanje i razvoj u oblasti poluprovodnika. Opremljen je motorizovanim nosačem za wafer-e prečnika do 300 mm, koji omogućava visoku stabilnost, preciznost i pristup čitavoj površini wafer-a.

    Ključne prednosti:

    • Ultra-brzo Raman snimanje uz visoku spektralnu i prostornu rezoluciju
    • Namenski nosač za wafer-e prečnika do 300 mm za analizu velikih površina
    • Precizan sistem za pozicioniranje i automatsko određivanje oblasti od interesa
    • Do 400 spektara snimljenih jednim laserskim impulsom
    • AreaFlash™ tehnologija za brzo Raman snimanje velikih površina
    • Detekcija i identifikacija čestica manjih od 100 nm
    • 3D Raman snimanje za analizu raspodele naprezanja i polimorfnih struktura
    • Automatska kalibracija talasnog broja i optičko poravnanje

     

    RAMANdrive je idealan za istraživanje poluprovodnika i naprednih materijala, uključujući inspekciju wafer-a, analizu čestica, procenu naprezanja, karakterizaciju polimorfnih struktura, analizu defekata i snimanje fotoluminiscencije.

     

    Za više informacija molimo posetite sajt proizvođača

     

    Pregled privatnosti

    Ova veb stranica koristi kolačiće kako bismo vam omogućili najbolje moguće korisničko iskustvo. Podaci o kolačićima se čuvaju u vašem pregledaču i omogućavaju funkcije poput prepoznavanja kada se vratite na našu veb stranicu, kao i pomaganja našem timu da razume koji delovi veb stranice su vam najzanimljiviji i najkorisniji.