SRB

    Bruker ELIO

    Bruker ELIO – prenosivi Micro-XRF spektrometar

    Bruker ELIO je ultra-prenosivi Micro-XRF spektrometar namenjen beskontaktnoj i nedestruktivnoj elementarnoj analizi vrednih, osetljivih i teško prenosivih predmeta.

    Omogućava preciznu analizu direktno na lokaciji, bez potrebe za pripremom uzorka. Zahvaljujući mogućnosti tačkaste analize i 1D/2D mapiranja, ELIO omogućava određivanje sastava i raspodele elemenata na površini uzorka.

    Kategorija:

    PREDNOSTI

    PRIMENE

    TEHNOLOGIJA

    TEHNIČKE SPECIFIKACIJE

    VIDEO

    Prednosti

    • Beskontaktna i nedestruktivna analiza
    • Nije potrebna priprema uzorka
    • Ultra-prenosivi Micro-XRF sistem
    • Masa mernog glave samo 2,1 kg
    • Minimalni kolimator 1 mm
    • Analiza tačke, linije i površine
    • 2D mapiranje elemenata do 100 × 100 mm
    • Integrisana kamera i lasersko pozicioniranje
    • Visok kvalitet XRF spektra
    • Pouzdana detekcija elemenata u tragovima
    • Pogodan za rad direktno na lokaciji
    • Opcija helijumskog ispiranja za analizu lakih elemenata

    Primene

    Umetnost i kulturno nasleđe

    ELIO je posebno pogodan za analizu umetničkih dela, istorijskih predmeta, pigmenata i arheoloških artefakata, bez kontakta i bez oštećivanja predmeta.

    Arheologija i arheometrija

    Omogućava analizu sastava artefakata direktno na lokaciji, uključujući predmete koji su preveliki, teški ili osetljivi za transport u laboratoriju.

    Geologija i geohemija

    Analiza minerala, stena i drugih geoloških uzoraka, uključujući određivanje raspodele elemenata.

    Istraživanje materijala

    Pogodan za detaljnu karakterizaciju različitih materijala i analizu pojedinačnih područja ili inkluzija.

    Tehnologija

    ELIO koristi mikrofokusnu rendgensku cev sa Rh anodom i SDD detektor sa CUBE tehnologijom. Detektor obezbeđuje energetsku rezoluciju <140 eV, uz visoku osetljivost i brzinu merenja.

    Integrisana kamera i lasersko pozicioniranje omogućavaju precizno određivanje mesta analize, dok opciona motorizovana XY platforma omogućava automatsko 1D i 2D mapiranje površina do 100 × 100 mm.

    Tehničke specifikacije

    Detektor: SDD, 17 mm², CUBE tehnologija

    Opcioni detektor: SDD, 50 mm²

    Energetska rezolucija: <140 eV za Mn Kα

    Rendgenska cev: mikrofokusna, Rh anoda

    Napon: 10–50 kV

    Struja: 5–200 μA

    Maksimalna snaga: 4 W

    Elementarni opseg: Na–U

    Kolimator: 1 mm

    Mapiranje: do 100 × 100 mm

    Masa merne glave: 2,1 kg

    Kamera: integrisana video-mikroskopska kamera

    Pozicioniranje: aksijalni i fokusni laser

    Napajanje: 110/230 V; opciono baterijsko napajanje

    Pregled privatnosti

    Ova veb stranica koristi kolačiće kako bismo vam omogućili najbolje moguće korisničko iskustvo. Podaci o kolačićima se čuvaju u vašem pregledaču i omogućavaju funkcije poput prepoznavanja kada se vratite na našu veb stranicu, kao i pomaganja našem timu da razume koji delovi veb stranice su vam najzanimljiviji i najkorisniji.