Bruker M6 JETSTREAM
Bruker M6 JETSTREAM – Velikopovršinski mikro-XRF skener visoke rezolucije
M6 JETSTREAM je napredni mikro-XRF sistem za brzo i nedestruktivno mapiranje elementarnog sastava velikih i kompleksnih uzoraka. Kombinuje visoku prostornu rezoluciju, veliko područje skeniranja i izuzetno brzo prikupljanje podataka.
Zahvaljujući mobilnoj konstrukciji i podesivom okviru, analiza se može obavljati direktno na lokaciji, bez potrebe za transportom velikih, teških ili posebno vrednih predmeta u laboratoriju.
Velika površina. Visoka rezolucija. Brza analiza.
M6 JETSTREAM omogućava micro-XRF analizu površina do 800 × 600 mm, uz podesivu veličinu snopa od 100 do 500 µm.
Sistem je projektovan za brzo mapiranje velikih površina i omogućava prikupljanje kompletnih informacija o raspodeli elemenata u jednom merenju.
PREDNOSTI
PRIMENE
TEHNIČKE SPECIFIKACIJE
Prednosti
- Površina skeniranja do 800 × 600 mm
- Podesiva veličina mernog snopa: 100–500 µm
- Brzo „on-the-fly“ mapiranje
- Analiza horizontalnih i vertikalnih površina
- Mobilna konstrukcija za rad na lokaciji
- Mogućnost dualnog SDD detektora za još brže prikupljanje podataka
Primene
M6 JETSTREAM je posebno pogodan za analizu velikih, vrednih ili nepokretnih uzoraka.
Kulturno nasleđe i umetnost
- Analiza slika i umetničkih dela
- Identifikacija pigmenata
- Ispitivanje slojeva i prethodnih intervencija
- Otkrivanje skrivenih detalja i promena u kompoziciji
- Analiza istorijskih i arheoloških predmeta
Geologija
- Mapiranje elementarnog sastava velikih geoloških uzoraka
- Analiza minerala i distribucije elemenata
Industrija
- Analiza velikih industrijskih komponenti
- Kontrola i karakterizacija materijala
- Brzo mapiranje površina i nehomogenosti
Arheologija i paleontologija
- Nedestruktivna analiza artefakata
Elementarno mapiranje fosila i drugih kompleksnih uzoraka
Tehničke specifikacije
Tip sistema: Velikopovršinski micro-XRF skener
Maks. površina skeniranja: 800 × 600 mm
Veličina snopa: 100–500 µm
Brzina stola: Do 100 mm/s
Minimalno vreme po pikselu: Do 1 ms
Detektori: Bruker XFlash® SDD
Površina SDD detektora: 30 ili 60 mm²; opcija do 2 × 60 mm²
Energetska rezolucija: ≤145 eV pri Mn Kα
Merenje: Horizontalne i vertikalne površine
Podešavanje nagiba: ±10° u vertikalnom režimu
Opcija: Aperture Management System (AMS)
Povezani proizvodi
Bruker M4 TORNADO PLUS
Bruker M4 TORNADO PLUS – Mikro-XRF spektrometar Bruker M4 TORNADO PLUS je visokoperformansni Mikro-XRF spektrometar za brzu, preciznu i nedestruktivnu…
Bruker M4 TORNADO
Bruker M4 TORNADO – Mikro-XRF spektrometar Bruker M4 TORNADO je visokih performansi Micro-XRF spektrometar namenjen preciznoj i brzoj elementarnoj analizi…
Bruker ELIO
Bruker ELIO – prenosivi Micro-XRF spektrometar Bruker ELIO je ultra-prenosivi Micro-XRF spektrometar namenjen beskontaktnoj i nedestruktivnoj elementarnoj analizi vrednih, osetljivih…
Bruker M6 JETSTREAM
Bruker M6 JETSTREAM – Velikopovršinski mikro-XRF skener visoke rezolucije M6 JETSTREAM je napredni mikro-XRF sistem za brzo i nedestruktivno mapiranje…