Bruker M4 TORNADO
Bruker M4 TORNADO – Mikro-XRF spektrometar
Bruker M4 TORNADO je visokih performansi Micro-XRF spektrometar namenjen preciznoj i brzoj elementarnoj analizi čvrstih, praškastih i tečnih uzoraka.
Omogućava analizu veoma malih površina sa veličinom mernog mesta manjom od 20 µm, kao i analizu tačaka, linija i površina uz 2D elementno mapiranje. Sistem pruža informacije o sastavu i raspodeli elemenata, uključujući i područja ispod površine uzorka.
PREDNOSTI
PRIMENE
TEHNOLOGIJA
TEHNIČKE SPECIFIKACIJE
VIDEO
Prednosti
- Veličina mernog mesta <20 µm
- Brza analiza tačaka, linija i površina
- 2D elementno mapiranje
- Minimalno vreme merenja do 1 ms po pikselu
- Brzina pomeranja stola do 100 mm/s
- Analiza uzoraka mase do 7 kg
- Površina mapiranja do 190 × 160 mm
- Visokopropusni SDD detektori
- Mogućnost korišćenja dva detektora istovremeno
- Mogućnost analize višeslojnih sistema
- Opcija helijumskog ispiranja za bolju analizu lakih elemenata
- Opcija dodatne rendgenske cevi za proširene analitičke mogućnosti
- Softver za kvalitativnu i kvantitativnu analizu
Primene
Geologija i geohemija
Analiza minerala, stena, tankih preseka i jezgara bušotina, uključujući detaljno mapiranje raspodele elemenata i mineralnih faza.
Rudarstvo i mineralogija
Karakterizacija mineralnih faza i brzo određivanje elementnog sastava uzoraka.
Industrija i materijali
Analiza metala, legura, keramike, građevinskih materijala, čestica i drugih industrijskih uzoraka.
Premazi i višeslojni sistemi
M4 TORNADO omogućava analizu sastava i debljine slojeva, uključujući višeslojne sisteme.
Umetnost i kulturno nasleđe
Nedestruktivna analiza pigmenata, umetničkih dela, istorijskih predmeta i drugih materijala kulturnog nasleđa.
Biologija i prehrambeni proizvodi
Elementna analiza biljaka, hrane i drugih organskih materijala.
Tehnologija
M4 TORNADO koristi polikapilarnu X-ray optiku koja fokusira rendgenski snop na mernu površinu manju od 20 µm, uz visoku intenzivnost X-zračenja.
Bruker XFlash® SDD detektori omogućavaju visoku brzinu prikupljanja podataka uz energetsku rezoluciju <145 eV.
TurboSpeed sto omogućava brzo skeniranje i „on-the-fly“ merenje, dok HyperMap tehnologija omogućava prikupljanje i čuvanje kompletnih spektralnih podataka za naknadnu analizu.
Za proširene mogućnosti dostupni su dodatna rendgenska cev, helijumsko ispiranje, XMethod za kvantifikaciju slojeva i AMICS softver za automatizovanu mineralnu analizu.
Tehničke specifikacije
Tip uzoraka: čvrsti materijali, čestice i tečnosti
Veličina mernog mesta: <20 µm
Detektor: XFlash® SDD, 30 mm²; opciono drugi detektor i 60 mm²
Energetska rezolucija: <145 eV
Elementarni opseg: Na–Am, u zavisnosti od konfiguracije
Rendgenska cev: Rh anoda, 50 kV, 30 W
Opciona druga cev: do 50 kV, 40 W
Brzina stola: do 100 mm/s
Minimalno vreme po pikselu: 1 ms
Površina mapiranja: do 190 × 160 mm
Maksimalna masa uzorka: 7 kg
Atmosfera: vazduh ili vakuum; opciono helijumsko ispiranje
Softver: HyperMap, XMethod, AMICS – u zavisnosti od konfiguracije
Dimenzije: 815 × 680 × 580 mm
Masa: približno 130 kg, u zavisnosti od konfiguracije


